可靠性介绍
安全性（Reliability）是对功率器材耐久力力的描述英文，XK星空体育
一般以JESD47为测验提纲，确认有差异涉及性的做实验的时候对功率器材参与测验考虑，其可比如：
- 晶圆新工艺有关系的可信性（HCI、BTI、TDDB、GOI、EM、SM……）
- 电路系统关于的牢靠性(ESD、Latch-up、HTOL、LTOL……)
- 打包封装相关联的能信性(PC、TCT、HTSL、(u)HAST……)
- 板级有关于的信得过性（BTC……）
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近年来大部分参考价值的规范了方式（代号公布的版本请检索JEDEC官方正品网址）:
| 序号 | 标准编号 | 标准状态 | 标准项目 |
|---|---|---|---|
| 1 | JESD22-A113 | 现行 | IC 集成电路压力测试考核 |
| 2 | JESD22-A113 | 现行 | 塑封表贴器件可靠性试验前的预处理 |
| 3 | JESD22-A100 | 现行 | 循环温湿度偏置寿命 |
| 4 | JESD22-A101 | 现行 | 稳态温湿度偏置寿命 |
| 5 | JESD22-A102 | 现行 | 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮 |
| 6 | JESD22-A103 | 现行 | 高温贮存寿命 |
| 7 | JESD22-A104 | 现行 | 温度循环 |
| 8 | JESD22-A106 | 现行 | 热冲击 |
| 9 | JESD22-A110 | 现行 | 高加速温湿度应力试验（HAST）（有偏置电 压未饱和高压蒸汽） |
| 10 | JESD22-A118 | 现行 | 加速水汽抵抗性——无偏压HAST（无偏置电 压未饱和高压蒸汽） |
| 11 | J-STD-002D | 现行 | 可焊性 |
| 12 | JESD22-B115 | 现行 | 焊球拉脱试验 |
| 13 | JESD22-B116 | 现行 | 引线键合的剪切试验 |
| 14 | JESD22-B117 | 现行 | 焊球剪切 |
| 15 | JESD78 | 现行 | 闩锁测试 |
| 16 | JESD22- A108 | 现行 | 温度、偏置度和使用寿命 |
| 17 | JS-001 | 现行 | 静电放电灵敏度试验人体模型(HBM) |
| 18 | JS-002 | 现行 | 静电放电灵敏度试验器件充放电模型(CDM) |
| 19 | J-STD-020 | 现行 | 非密封表面贴装设备的湿度/回流灵敏度分级 |
| 20 | JEDEC-SPP-024 | 现行 | 球栅阵列封装的回流平整度要求 |
| 21 | JESD89-3 | 现行 | 高能光束加速软失效测试要求 |
| 22 | JESD85 | 现行 | 计算器件故障率方法 |
器件寿命
配件日子包括配件在不合乎的标准标准的承载力氛围下，各机械性能完成指标或检收的标准不合乎的标准品牌规模书的施用日子。基本上是个配件的最薄弱环节方面确定了其日子。当配件失学习学习效率区域不合乎的标准威布尔变量时，定议是个配件总计失学习学习效率在63.2%之余的日子用于该配件的表现形式日子。.我用表现形式日子线条（浴盆线条）来认为，其由接下来三方面组成：
- 第1 方面随着间减少的失速率，号称早夭（early failure）。
- 第三大部分有相拟放置的失速率，称做随意失灵（random failure）。
第三部分为超过其设计寿命后，随时间递增的失效率，称为耗损失效（wear out）。
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通过 JESD85 （Methods for Calculating Failure Rates in Units of FITs）来统一衡量产品的失效。
其算出描绘正确：
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